芯片振动筛选测试
抗振试验是芯片设计必不可少的环节,通过振动试验筛选出不良部件、工艺缺陷及有潜在风险的产品,同时帮助设计人员进行问题定位分析。光纤光栅有着体积小、可嵌入、无电磁干扰、灵敏度高、响应快、一线多点等特点,通过设计封装适配于芯片振动筛选测试,如跌落振动测试、芯片疲劳加载测试、随机振动测试等,真实还原出振动、应变变化率、应力等物理量。